
Диэлектрическое высокоотражающее покрытие формируется путём нанесения многослойной структуры из чередующихся диэлектрических плёнок с высоким и низким показателем преломления, разрабатывается под заданный спектральный диапазон и может наноситься на оптические подложки из стекла K9, плавленого кварца, монокристаллического кремния и других материалов.
Диэлектрическое высокоотражающее покрытие формируется путём нанесения многослойной структуры из чередующихся диэлектрических плёнок с высоким и низким показателем преломления, разрабатывается под заданный спектральный диапазон и может наноситься на оптические подложки из стекла K9, плавленого кварца, монокристаллического кремния и других материалов. Слои обладают высокой твёрдостью и малым поглощением; по сравнению с металлическими покрытиями они обеспечивают более высокий коэффициент отражения и более высокий порог лазерного повреждения.
1. Высокая эффективность отражения: в целевом диапазоне достигается чрезвычайно высокий коэффициент отражения, световой пучок отражается в максимальной степени, потери на поглощение световой энергии снижаются.
2. Малое поглощение, стойкость к высокой мощности: собственное поглощение диэлектрических материалов чрезвычайно низкое, покрытие выдерживает воздействие мощного лазерного излучения и не склонно к нагреву и повреждению.
3. Стабильность и долговечность слоёв: хорошая химическая стойкость, влагостойкость и устойчивость к протиранию, незначительное ухудшение оптических характеристик при изменениях температуры и влажности окружающей среды.
4. Подавление паразитного света: равномерность слоёв и низкое поверхностное рассеяние обеспечивают качество волнового фронта отражённого пучка.
1. Плоские зеркала и гальванометрические сканирующие зеркала в лазерных резонаторах и оптических схемах лазерной обработки.
2. Высокомощное промышленное лазерное оборудование для лазерной маркировки, резки, сварки и т.п.
3. Элементы изменения направления пучка в интерферометрах, спектрометрах и прецизионных оптических контрольно-измерительных приборах.
4. Отражающие элементы научных оптических платформ и прецизионных лазерных измерительных систем.